電子デバイス製造におけるVEC手法

論文

装置産業と言われる電子部品製造は塵挨の関係上，分析するための作業状況の把握や，微細作業の解析が困難であり，VECのアプローチが充分出来ないといった先入観があった。この問題を解決し電子デバイスに合ったVEC手法を開発し適用した。これは，信頼性およびコストに最も影響する要素である不良を指数化して，それを基に工程機能分析，不良要因系統図を作成し，要因分析マトリクスにまとめ，それをベースにアイデア発想を行うものである。特にこの種の評価にあたっては一つのアイデアが多岐にわたって影響を及ぼすため，それを総合的に評価把握するのに，バードチャート評価表を用いて，改善後の不良指数を推定し，アイデアの検証を試み，改善の前後で不良指数を比較検討するものである。

目次

• 1. はじめに
• 2. 当事業所におけるVEC活動とその問題点
• 3. 電子デバイスに対する製造VEC
• 4. 研究の成果と考察
• 5. まとめ

発行年

著者

株式会社日立製作所
茂原工場　VECセンタ

中村正興

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